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【半導體測試】 - Timing 是什麼？

Timing 是什麼？

 

在半導體積體電路測試中，常常會聽到Timing或是Timing Set。Timing(時序)、Timing set(時序設定組合)在Functional Test(功能測試)中只是用來定義

① 對INPUT PIN而言，此時的timing值，是用來設定Tester輸入訊號到元件時，此訊號的上升、下降的時間點。

② 對OUTPUT PIN而言，此時timing值，是用來設定Tester抓取元件輸出訊號的時間點。

 

在測試程式中關於timing的設定共有6個，我們分別將其稱呼為T1~T6。範例如下

 

pin/Group, T1,  T2,  T3,  T4,  T5 ,  T6 ;

 ALLPINS, 0nS, 0nS, 0nS, 0nS, 50nS, 50nS;
 GROUP_1, 0nS, 0nS, 0nS, 0nS, 60nS, 60nS;
 GROUP_2, 0nS, 0nS, 0nS, 0nS, 60nS, 60nS;
 GROUP_3, 0nS, 0nS, 0nS, 0nS, 60nS, 60nS;
 GROUP_4, 0nS, 0nS, 0nS, 0nS, 60nS, 60nS;

 

藍色字體的部分，為適用此組timing的Pin或Pin Group

✦ T1, T2：用來定義Input Signal(輸入訊號)上升、下降的時間點。

✦ T3, T4：用來定義輸入、輸出信號的切換時間。

✦ T5, T6：用來定義Output Signal(輸出訊號)被抓取的時間點。

 

 


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