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【半導體測試】 - TEST PATTERN | VECTOR 是什麼？

在半導體積體電路測試中，TEST VECTOR、TEST PATTERN是什麼意思？測試向量(TEST VECTOR)也稱為(TEST PATTERN)或是我們一般比較常聽見的真值表(TRUE TABLE)。VECTOR/PATTERN主要是用來控制測試機台何時去做輸出訊號、何時去做比較訊號的動作。也就是經由測試程式(Test Program)來控制Tester的動作。

常見或是比較通用的VECTOR符號如下，當然現在的測試機台也大都有支援由使用者自定符號。此處我們就先略過不提。

雖然我們可以依照字面翻譯稱test pattern為測試向量，但在半導體測試業沒有人會這樣叫。一般都是直接講「pattern」這一個詞。

底下為一個簡單的PATTERN樣式，讓大家比較不用憑空想像實際PATTERN是長什麼樣子。

*XXXXXXXXXXXXXXXX0X1XXX0*
*0111111111111111001XXX0*
*0111111111111111000XXX0*
*0111111111111111001XXX0*
*0111011111111111001XXX0*
*0111111111111111000XXX0*
*0111011111111111000XXX0*
*0111111111111111000XXX0*
*0111011111111111000XXX0*
*0111111111111111000XXX0*
*0111011111111111000XXX0*
*0111111111111111HHHHHHH*
*0111011111111111000XXX0*
*0111111111111111LLLLLLL*

vector和pattern有什麼不同呢？一般我是這麼做分別的，單一個符號時稱為VECTOR，但數個VERTOR組成一個檔案時，稱之為PATTERN。不過此僅為自己個人的記法。僅供參考。

上述的pattern範例中，每一個直行所代表的，即是一個信號腳。而每一個橫列則是代表一個週期(Cycle)的訊號。Pattern是用在功能測試(Functional Test)，當然還需要搭配timing、level等才可執行測試。