【半導體測試】 - AC Testing 是什麼?

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在半導體積體電路測試中,AC Testing (AC測試)的目的是要確保元件符合時序規格(Timing Specification)。AC測試的作法是依照元件的AC Sepc下去設定適合的時序值(timing value)與訊號格式(signal Format),並執行功能測試(Functional Test)順序。

 

一般常見的的AC測試項目列表如下

✦Setup Time

✦Hold Time

✦Propagation Delay Measurements

✦Minimum Pulse Widths

✦Maximum Frequency

✦Output Enable Time

✦Output Disable Time

 

對於我們這種非專業的測試人員,是不用太深入去了解什麼是 AC Testing ?但至少當別人在討論AC testing或是提到上述測試項目時,我們可以有一很概括性的了解,AC testing主要還是在測試兩個訊號間的時間差。

 

 


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