隨手記錄

在半導體測試中，Program Flow 是什麼意思？有什麼含義呢？

測試程式流程和DC測試的關係是相當密切且重要的。有許多的DC測試是需要預設條件的，也就是說元件在做DC量測時，它必須先被設定到指定的邏輯狀態下。因此在DC測試執行之前, 功能(Functional)測試先要被驗證過。假若元件不能正常的工作，則其前置條件將會失效。此時DC量測的結果也將不代表任何的意義。

下圖是典型的測試流程圖，我們可以注意到 Gross Functional Test是在DC test之前被執行的。這是用來確保此元件的功能是正常的，而且任何DC測試所需要的先決條件也可被成功設定。

程式流程對生產測試程式是最為重要的。所以在規劃測試流程時，有許多項目需要被考慮進去。一般而言，測試產出則是最重要的。而其它需要被考慮的項目還有：需要收集的信息量是多少？測試程式是否包括速度分級或多級分選(Good Bin大於1個)？所以制定一個流程圖，其中包括PASS/FAIL的分支和分Bin；用以確保流程能滿足所有的測試要求。

當測試程式被使用在量產上經過一段時間後，測試的摘要、總結(Test summary)則必須被檢視。而程式程式的流程則需要被修改。Fail發生頻率最高的測試項目應該被最早執行，而fail發生機率較低的，則必須最後再執行。