close

電阻式輸入 - 上拉(pull-ups)、下拉(pull-downs)

 

某些類型的輸入(Input)可能會有與之相關的主動「上拉(pull-ups)」、「下拉(pull-downs)」或「電阻路徑」。而在元件的規格表中可能會有定義電流的範圍,例如:80uA~120uA。在這個範例中,當此元件在測試規格書中定義的條件下進行測試時,每個Input預計會產生大約100uA的電流。因為每個Input pin都會產生特定的電流,所以每個Input都必須被單獨測試;此時,使用Gang Test 是行不通的。而使用並行測試(Parallel test)來量測每個Input pin則可正常工作,而且還可快速的得到測試結果。電阻式輸入也會影響元件的IDD,而這更取決於每個input 的電壓準位。

CMOS Input Structures

⬛ 電阻式輸入 - 關鍵字

◆ 目的:用以驗證輸入緩衝器(Input buffer)在製造過程中對「VDD」或「地」的電阻路徑是否正確。

◆ Ganged Testing 無法使用。

◆ 通常會有兩個量測規格的限制,也就是「上限」、「下限」,用以測試電阻是否在可接受的範圍。

 


arrow
arrow
    全站熱搜

    News123 發表在 痞客邦 留言(0) 人氣()