隨手記錄

Functional Testing 是什麼？

■ Functional Testing是什麼？

在半導體積體電路測試中，Functional Testing也是一個常見的測試方法，或者說是常用的測試方式。當元件在執行邏輯功能動作時，輸入資料被送入到待測品(DUT)中，而待測品(DUT)的輸出資料則被測試機台的比較器讀取，並將此比較結果告知使用者，此比較結果就是PASS或是FAIL。

一個Functional Testing大概需要以下幾項來搭配產生：

① Level

② Timing

③ Vector

Functional Testing簡單的說就是做「功能的測試」，用以測試元件的某一項功能是否正常。至於一個元件需要測試多少Functional test的項目，取決於這個元件開出來的規格到哪邊？開出的規格、功能愈複雜，當然Functional test的項目愈多。另一點則取決於fault coverage也是要錯誤覆蓋率。當fault coverage要求愈高，測試項目也就愈多。