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以下對SC312 Test Head的硬體架構做個簡單的整理。詳細規格仍需自行研讀Manual。

Test Head 

Test Head (測試頭) 包含所有可編程(Programmable)的測試資源。Digital testing(數位測試)需要以下六種Circuit Board(電路板). 

Functional Testing

① Clock Board

Ⓐ Provides master timing syschronization. 當timing或是functional test有時序上的問題，可以優先確認這塊板子。

Ⓑ ±15v，+5v 一般作為Relay的電源。開始測試時，才會通電。

② Sequencer Board

ⒶProvides pattern memory address control and serves as the functional test controller. 當pattern有錯亂時，可先確認此塊板子。

Ⓑ8 data pins / 8 address pins.

Ⓒ16 set of  Relay control.  當Load board/Probe card上的外接relay在控制上有問題時，在排除Relay本身的問題後，可優先確認這一塊板子。

③ I/O Board

ⒶProvides 16 channels of tester I/O, timing and voltage levels.

Ⓑ一般也稱其為PE Card (Pin electronics Card)

DC Parametric Testing

①ADC

Analog to Digital converter for PMU and DPS measurements.  顧名思義，此板子用來做機台內部 DPS/PMU 量測時數位、類比訊號間的轉換。

②PMU

Parametric Measurement Unit. (V/I force unit). 測試時機台的所有DC量測皆是經由此裝置來執行。

③DPS

ⒶDevice Power Supply ( 2 ch per board) provides DUT power.

ⒷDPS Board 有二種版本。Hi/Hi, Hi/Lo. 所謂的Hi指的是High current / Low Voltage.

✦Hi/Hi ：提供兩組DPS皆為10V/2A.

✦Hi/Lo：一組 10V/2A，一組15V/200mA.

延伸閱讀

• SC312 - IO Board資訊筆記
• SC312 Tester - Probe Card / Load board 上之外接Relay的控制方法
• SC312 Tester - 查詢機台組態 Tester Configuration
• SC312 Tester - 程式上傳方法
• SC312 Tester - Unix常用的壓縮指令
• SC312 Tester - 從量產模式(Production Mode)切換到工程模式(Execution Mode)的方法
• SC312 Tester - 如何量測Test Time？
• SC312 Tester - Test Head 硬體架構簡介